xrd可以分析构型吗,xrd峰强度代表什么

xrd可以分析构型吗?
第一简单单就来说一下下原理-的视角θ为布拉格角或称为掠射角.有关XRD的测量原理比较复杂,要清楚晶体学和X射线知识.简单的来说(对粉末多晶):当单色X射线照射到样品时,若这当中一个晶粒的一组面网(hkl)取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ(衍射线与入射X射线的延长线的夹角)处出现衍射.
但是在实质上应用中,我们只要能用仪器做出XRD图谱,然后按照pdf卡片来清楚所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了非常多的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就可以清楚自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,目前都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑软件(如Jade)通过匹配度找寻与之比配的pdf卡片,很方便.在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且,可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸还有通过精修手段得到晶胞常数.
实质上操作途中,大多数情况下都可以得到一个XRD的测试图谱,在你尽量提供多的信息情况下,例如物相的制备方式,所包含的元素等,与标准卡片对比,找到跟你XRD图谱一样的标准图谱,再分析,当然得到的结果中可能有各种物相,那样你就得按照你图谱上的峰的位置一条一条地去找卡片库,匹配,然后就行了。
xrd峰强度是什么?
xrd峰强度是说明相对背地强度高低,表示晶相含量,跟面积表示晶相含量完全一样。峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。 峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫做宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺情况很重,需平滑后面才可以看。
xrd峰强度:XRD衍射峰对应的某晶面;假设峰值相对标准谱越高,则构成这种类型晶面的原子阵列在该晶体材料中的存在越多。
晶体结晶度差算是什么?
峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫做宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺情况很重,需平滑后面才可以看。
峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。
峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。
峰高假设是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量完全一样。
峰高假设是A峰相对B峰高不少,“两峰的高度比A/C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大不少,既然如此那,这个材料是A方向择优取向的。
XRD图像如何分析?
XRD图谱峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。
XRD图谱峰高假设是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量完全一样。
XRD图谱峰高假设是A峰相对B峰高不少,两峰的高度比“A/C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大不少,既然如此那,这个材料是A方向择优取向的热重曲线热重分析得到的是程序控制温度下物质质量与温度关系的曲线。
即热重曲线(TG)曲线,横坐标为温度或时间,纵坐标为质量,也可以用失重百成绩等其它形式表示。
因为试样质量变化的实质上过程不是在某一温度下同时出现并瞬间完成的,因为这个原因热重曲线的形状不呈直角台阶状,而是形成带有过渡和倾斜区段的曲线。
半峰宽和峰底宽的换算?
一样点:
1、峰宽和半峰宽都是色谱学名词是在色谱峰两侧拐点处所作切线与峰底相交两点间的距离。
2、半峰宽表示单位与峰宽一样。都可有三种单位:一是记录纸的距离(mm或cm),二是时间(min或s),三是体积(ml)。
3、都拥有着两种计算方式:一种是半高宽法fwhm,即做峰底的切线L,在峰高一半的地方做L平行线。一种是积分法,做峰底的切线L,测量峰的面积,测量峰的高度,用“面积/高度”得到峰宽。表示色谱峰两侧拐点处所作切线与峰底相交两点间的距离,峰宽等于4倍标准偏差。
不一样点:
1、峰宽是在色谱峰两侧拐点处所作切线与峰底相交两点间的距离。半峰宽是通过峰高的中点作平行于峰底的直线,此直线与峰两侧相交两点当中的距离。
2、峰宽等于4倍标准偏差,半峰宽等于2.354倍标准偏差。
扩展资料:
半峰宽的计算
有两种计算方式:一种是半高宽法fwhm,即做峰底的切线L,在峰高一半的地方做L平行线。一种是积分法,做峰底的切线L,测量峰的面积,测量峰的高度,用“面积/高度”得到峰宽。
如何用XRD数据计算晶粒大小
大多数情况下步骤为:先对衍射峰进行校正处理,涵盖:平滑、扣背底、K2线的扣除、仪器变宽的扣除等;然后提取衍射峰的宽度数据(可以是半高宽、也可以是积分宽);下一步就是单位转换,把衍射峰宽度的单位转换为弧度;后代入谢乐公式,完全就能够计算出晶粒大小数据。
用Scherrer 公式 D=Kλ/βcosθ 可计算晶粒度,但一个相有不少衍射峰是计算后平均呀,还是有其它处理方式?假设做XRD当中设备可能未进行较正,误差将怎样处理?可以取不一样的衍射峰,这样算得的是垂直于所选晶面的晶向上的粒径误差有软件算的,手动计算也可。

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